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Model 19305 series 繞線元件脈沖測(cè)試器

Chroma 19305系列為繞線元件脈沖測(cè)試器,系列機(jī)種包含19305單通道及19305-10 10通道輸出測(cè)試,最高擁有6kV脈沖電壓與200MHz高速取樣率 提高放電檢測(cè)能力,10uH感量以上產(chǎn)品測(cè)試,擁 有波形面積比較、波形面積差比較、波形顫動(dòng)總量 (Flutter) 及波形二階微分?jǐn)?shù) (Laplacian) 等判定方法,可有效檢測(cè)線圈自體絕緣不良。

關(guān)鍵詞 :

Model 19305 series 繞線元件脈沖測(cè)試器


所屬分類 :


產(chǎn)品詳細(xì)


Chroma 19305系列為繞線元件脈沖測(cè)試器,系列機(jī)種包含19305單通道及19305-10 10通道輸出測(cè)試,最高擁有6kV脈沖電壓與200MHz高速取樣率 提高放電檢測(cè)能力,10uH感量以上產(chǎn)品測(cè)試,擁 有波形面積比較、波形面積差比較、波形顫動(dòng)總量 (Flutter) 及波形二階微分?jǐn)?shù) (Laplacian) 等判定方法,可有效檢測(cè)線圈自體絕緣不良。

繞線元件于生產(chǎn)檢測(cè)包含電氣特性、電氣安規(guī)耐 壓進(jìn)行測(cè)試,而線圈之自體絕緣不良通常是造成線圈于使用環(huán)境中發(fā)生層間短路、跨線短路、出腳短路之根源。其形成原因可能源于初始設(shè)計(jì)不良、加工制程不良或絕緣材料之劣化等所引起, 故加入線圈層間短路測(cè)試有其必要性。

所謂的『繞線元件脈沖測(cè)試』基本上是以一『非 破壞性』、高速、低能量之電壓脈沖施加在待測(cè)物 上,再藉由分析/比對(duì)待測(cè)物良品與不良品之等效波形以達(dá)到判定良否之目的。繞線元件脈沖測(cè)試主要功能乃在早期發(fā)現(xiàn)繞線元件中各種潛在之 缺陷,例如:層間短路、甚至是不易發(fā)覺(jué)之部分放 電等。

Chroma 19305系列為針對(duì)繞線元件測(cè)試需求所設(shè)計(jì),利用一高壓充電之微小電容(測(cè)試能量低)與 待測(cè)線圈形成RLC并連諧振,由諧振之衰減波形, 透過(guò)高速且精密的取樣處理分析技術(shù),可檢驗(yàn)出線圈自體之絕緣不良及局部放電,提供變壓器、 電感等繞線產(chǎn)品進(jìn)行層間短路測(cè)試,讓繞線元件 生產(chǎn)廠商及使用者在品質(zhì)驗(yàn)證時(shí),不但擁有可靠 的測(cè)試品質(zhì),能更有效率為產(chǎn)品品質(zhì)把關(guān)。

Chroma 19305-10對(duì)于產(chǎn)線上的測(cè)試需求提供多 通道掃描應(yīng)用(最大10通道) ,單機(jī)10通道輸出可達(dá)成一次多顆掃描測(cè)試,節(jié)省測(cè)試時(shí)間及人力成本。

 

主要特色

●脈沖測(cè)試高取樣率(200MHz)

●6kV 可程式脈沖測(cè)試

●崩潰電壓分析

●高速測(cè)試

●單機(jī)最大10通道掃描測(cè)試(19305-10)

●可選配外接高壓掃描治具(40ch max.)

●繁中/ 簡(jiǎn)中 / 英文操作介面

●USB波形儲(chǔ)存& 畫(huà)面擷取功能

●圖形化彩色顯示

●標(biāo)準(zhǔn)LAN,USB,RS232介面

 

四種波形判定模式

●波形面積比較 (Area Size)

●波形面積差比較 (Differential Area)

●波形顫動(dòng)總量 (Flutter Value)

●波形二階微分?jǐn)?shù) (Laplacian Value)

Model    Description    詢價(jià)

●19305    繞線元件脈沖測(cè)試器     

●19305-10    繞線元件脈沖測(cè)試器(10ch)     

●A190359    16通道高壓掃描治具    

推薦產(chǎn)品



Chroma 19056/19057 耐壓分析儀系列為針對(duì)超高壓耐壓測(cè)試與分析所設(shè)計(jì)的設(shè)備。系列機(jī)種包含10kVac/12kVdc/20kVdc,最大輸出AC 20mA/DC10mA。基本交/直流耐壓、絕緣電阻測(cè)試,對(duì)于產(chǎn)線測(cè)試時(shí)的接觸檢查議題,除原有專利設(shè)計(jì)OSC開(kāi)短路偵測(cè) (Open Short Check),新增HVCC高壓接觸檢查(High Voltage ContactCheck),針對(duì)高絕緣能力之元件于高壓輸出時(shí)同步進(jìn)行接觸檢查,提升測(cè)試可靠度與效率。

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