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3110 雙用單站測試分類機

3110是一臺雙用單站的 Pick & Place 測試分類機，支援各種不同類型封裝的晶片，如BGA, μBGA, QFP 系列, QFN, Flip-Chip, TSOP等。此分類機運用 Pick & Place 技術, 將待測晶片由進料艙移至測試區，再依測試結果進行分類。3110不但適用于系統功能檢測，也同時具備終端電性測試的能力。可綜合各元件的整體效能并執行測試系統上的所有測試程式，旨在提供一個全能的解決方案。

關鍵詞 :

3110 雙用單站測試分類機

所屬分類 :

產品詳細

3110是一臺雙用單站的 Pick & Place 測試分類機，支援各種不同類型封裝的晶片，如BGA, μBGA, QFP 系列, QFN, Flip-Chip, TSOP等。此分類機運用 Pick & Place 技術, 將待測晶片由進料艙移至測試區，再依測試結果進行分類。3110不但適用于系統功能檢測，也同時具備終端電性測試的能力。可綜合各元件的整體效能并執行測試系統上的所有測試程式，旨在提供一個全能的解決方案。

支援的晶片尺寸從 3x3mm 到 55x55mm，配備有自動進出料分類艙及手動分類盤，可最優化工程 測試的實驗數量。簡易操作的操控畫面，及適配性高的testers連接介面，大幅提升機臺的使用率及共用性。除此之外，它能針對不同的測試環境條件，提供數個溫控系統的選擇，如三溫控制系統、高功率冷卻系統等，測試的環境溫度可設置 于常溫、高溫或低溫。

 

主要特色

●雙用單站測試分類機

●適用于終端測試或系統功能測試

●自動進料出料艙的配置及依測試結果自動分類的功能

●測頭內建氣室，可吸收及減緩下壓觸力的沖擊

●可選配的三溫控制系統 (-40~135℃)

●可選配的高功率冷卻系統

●理想的產品工程或研發實驗設備機，可自動搜集與分析測試、實驗結果的數據

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