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3260 自動(dòng)化系統(tǒng)功能測(cè)試機(jī)

Chroma 3260是一款新型的測(cè)試機(jī)可供多組PCB level平行測(cè)試的大量生產(chǎn)機(jī)具。3260可配合多數(shù)不同的封裝類(lèi)型包括傳統(tǒng)的QFP、TQFP、 μBGA、PGA 及CSP封裝。測(cè)試機(jī)采用取放的技術(shù)，可從JEDEC夾盤(pán)來(lái)拾取IC，移動(dòng)到測(cè)試位置，然后將測(cè)試后產(chǎn)品放置于適當(dāng)之Tray盤(pán)。

關(guān)鍵詞 :

3260 自動(dòng)化系統(tǒng)功能測(cè)試機(jī)

所屬分類(lèi) :

產(chǎn)品詳細(xì)

Chroma 3260是一款新型的測(cè)試機(jī)可供多組PCB level平行測(cè)試的大量生產(chǎn)機(jī)具。3260可配合多數(shù)不同的封裝類(lèi)型包括傳統(tǒng)的QFP、TQFP、 μBGA、PGA 及CSP封裝。測(cè)試機(jī)采用取放的技術(shù)，可從JEDEC夾盤(pán)來(lái)拾取IC，移動(dòng)到測(cè)試位置，然后將測(cè)試后產(chǎn)品放置于適當(dāng)之Tray盤(pán)。

Chroma 3260以并排平行方式，進(jìn)行測(cè)試。在高溫下具有自動(dòng)溫度冷卻(ATC)功能，其范圍從攝氏50度到125度可測(cè)試1至6個(gè)測(cè)試座。

 

主要特色

●可靠的高速Pick&Place分類(lèi)機(jī)

●同步吸嘴雙取及雙放設(shè)計(jì)

●具備處理QFP的能力

●簡(jiǎn)易編輯通訊定義(ECD)功能

●無(wú)測(cè)試座損壞的問(wèn)題

●浮動(dòng)頭可有效率衡測(cè)試壓力

●IC殘留檢測(cè)功能

●發(fā)明專(zhuān)利字號(hào)190373, 190377, 1227324 & 125307

推薦產(chǎn)品

Chroma 19056/19057 耐壓分析儀系列為針對(duì)超高壓耐壓測(cè)試與分析所設(shè)計(jì)的設(shè)備。系列機(jī)種包含10kVac/12kVdc/20kVdc，最大輸出AC 20mA/DC10mA。基本交/直流耐壓、絕緣電阻測(cè)試，對(duì)于產(chǎn)線測(cè)試時(shí)的接觸檢查議題，除原有專(zhuān)利設(shè)計(jì)OSC開(kāi)短路偵測(cè) (Open Short Check)，新增HVCC高壓接觸檢查(High Voltage ContactCheck)，針對(duì)高絕緣能力之元件于高壓輸出時(shí)同步進(jìn)行接觸檢查，提升測(cè)試可靠度與效率。
Chroma 19036為業(yè)界首創(chuàng)結(jié)合脈沖測(cè)試，耐壓、絕緣電阻與直流電阻量測(cè)于單機(jī)的繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀，擁有5kVac/6kVdc高壓輸出、5kV絕緣電阻、6kV層間短路脈沖電壓與四線式直流電阻量測(cè)。符合繞線元件測(cè)試需求且提供多通道掃描測(cè)試，單機(jī)10通道輸出可達(dá)成一次多顆掃描測(cè)試，節(jié)省測(cè)試時(shí)間及人力成本。
Chroma 7935晶圓檢測(cè)機(jī)為切割后自動(dòng)化晶粒檢測(cè)機(jī)，使用先進(jìn)的打光技術(shù)，可以清楚的辨識(shí)晶粒的外觀瑕疵。結(jié)合不同的光源角度、亮度及取像模式，使得 7935可以適用于LED、雷射二極體及影像感測(cè)器等產(chǎn)業(yè)。
Chroma58158是一臺(tái)完全遵照國(guó)家 AC LED 元 件標(biāo)準(zhǔn)量測(cè)規(guī)范所開(kāi)發(fā)之LED燈具測(cè)試系統(tǒng)。 Chroma 58158 整合致茂的可程式化交流電源供應(yīng)器與量測(cè)單元，提供 AC LED一個(gè)模擬真實(shí)交流環(huán)境之測(cè)試條件；另外，致茂亦提供一彈性化光學(xué)測(cè)試平臺(tái)，使用者不僅可利用Chroma58158提供之整合測(cè)試軟體可測(cè)得 AC LED 各種交 流之光電特性 (詳見(jiàn)規(guī)格表)，亦可整合其他直流電流量測(cè)單元可測(cè)得AC LED之直流光學(xué)特性。

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