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3280 SD Card 測試分類機

Chroma 3280整合了測試機臺與自動分類機的功能，并采用創新的設計，滿足采用KGD生產的SD卡類產品的測試需求，不論是在機臺的成本或是體積上，都比傳統的測試機臺來的大幅降低，因此也就能夠相對地大幅降低測試的成本。

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3280 SD Card 測試分類機

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Chroma 3280采用創新的技術整合SD卡測試機與自動分類機的功能，并利用Test-In-Tray的技術來達到大量平行測試的能力。透過支援SD資料傳輸協定(SD Protocol Aware)與提供特定DC參數測試的功能，3280為所有的SD卡類產品帶來了一個創新的測試方法，而這高效率的測試方法也為客戶帶來大幅降低生產成本的好處。此外，小機臺的設計更可節省機臺于測試廠之占地面積。

對于低價的消費性產品而言,即使在生產成本上僅有些微的差距，制造商也會極為敏感。而這樣的特性往往是此類消費性產品在成品測試中之一大挑戰。對于SD卡類產品而言，為了能夠降低生產的成本，SD卡類制造商了解在SD卡的制程中必須采用Known Good Die(KGD)來進行生產。其主要的原因，乃是因為采用KGD生產的SD卡類產品，將可減少在成品測試中對于測試項目的要求，只需針對成品封裝過程中所可能產生的瑕疵進行檢測，而不需要再對整個晶片進行完整的測試。

主要特色

●整合SD卡測試機與自動分類機功能

●平行測試120個micro SD卡

●Test-In-Tray

●UPH = 5400 (以70秒的測試時間為例)

●支援SD卡資料通訊協定

●支援DC參數量測功能

●Microsoft Windows XP OS

●提供Tray Map與分類結果資訊

●小機臺體積 : 164cm x 79cm x 180cm

●選配設備

●3rd Party測試模組整合

●Mini SD, SD與MMC的測試介面

●SD卡資料寫入模組

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