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3360-P VLSI 測試系統

25/50 MHz 測試頻率
25/50 Mbps 數據速率
256 logic I/O pins
8M (標準) /16M (選購) Pattern 記憶體

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3360-P VLSI 測試系統

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產品詳細

主要特色

●25/50 MHz 測試頻率

●25/50 Mbps 數據速率

●256 logic I/O pins

●8M (標準) /16M (選購) Pattern 記憶體

●彈性化硬體結構 (互換式 I/O, VI, ADDA, and LCD)

●平行測試可達 32 devices

●Real parallel Trim/Match 功能

●時序頻率測試單位 Time & Frequency Measurement Unit (TFMU)

●測試程式/pattern 轉換器 (V7, TRI6020, V50, E320, SC312, D10, J750, ITS9K, TS670 )

●AD/DA卡選配 (16 ~24 bits)

●SCAN 測試選配 (max 512M/chain)

●ALPG 測試選配供記憶體用

●STDF 工具支援

●人性化 Windows XP 操作環境

●CRAFT C/C++ 程式語言

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Chroma 19056/19057 耐壓分析儀系列為針對超高壓耐壓測試與分析所設計的設備。系列機種包含10kVac/12kVdc/20kVdc，最大輸出AC 20mA/DC10mA。基本交/直流耐壓、絕緣電阻測試，對于產線測試時的接觸檢查議題，除原有專利設計OSC開短路偵測 (Open Short Check)，新增HVCC高壓接觸檢查(High Voltage ContactCheck)，針對高絕緣能力之元件于高壓輸出時同步進行接觸檢查，提升測試可靠度與效率。

耐壓測試分析儀

Chroma 19036為業界首創結合脈沖測試，耐壓、絕緣電阻與直流電阻量測于單機的繞線元件電氣安規掃描分析儀，擁有5kVac/6kVdc高壓輸出、5kV絕緣電阻、6kV層間短路脈沖電壓與四線式直流電阻量測。符合繞線元件測試需求且提供多通道掃描測試，單機10通道輸出可達成一次多顆掃描測試，節省測試時間及人力成本。

繞線元件電氣安規掃描分析儀

Chroma 7935晶圓檢測機為切割后自動化晶粒檢測機，使用先進的打光技術，可以清楚的辨識晶粒的外觀瑕疵。結合不同的光源角度、亮度及取像模式，使得 7935可以適用于LED、雷射二極體及影像感測器等產業。

Model 7935 晶圓檢測系統

Chroma58158是一臺完全遵照國家 AC LED 元件標準量測規范所開發之LED燈具測試系統。 Chroma 58158 整合致茂的可程式化交流電源供應器與量測單元，提供 AC LED一個模擬真實交流環境之測試條件；另外，致茂亦提供一彈性化光學測試平臺，使用者不僅可利用Chroma58158提供之整合測試軟體可測得 AC LED 各種交流之光電特性 (詳見規格表)，亦可整合其他直流電流量測單元可測得AC LED之直流光學特性。

Model 58158-IS LED 照明測試系統

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