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Model 58173 LED 全光通量自動測試系統

Chroma 58173 是一組全新獨特的量測 LED 全光 通量之自動化測試系統。在LED的裸晶與晶粒測 試生產線中，常見使用部份光通量來取代全光通 量之量測方式 (見圖1)。然而，傳統的方式存在 一些缺點，例如：準確度較低、訊噪比較低、測 試時間較長等，以致于導入LED 的裸晶與晶粒生 產線時會發生問題。

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Model 58173 LED 全光通量自動測試系統

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產品詳細

Chroma 58173 是一組全新獨特的量測 LED 全光 通量之自動化測試系統。在LED的裸晶與晶粒測 試生產線中，常見使用部份光通量來取代全光通 量之量測方式 (見圖1)。然而，傳統的方式存在 一些缺點，例如：準確度較低、訊噪比較低、測 試時間較長等，以致于導入LED 的裸晶與晶粒生 產線時會發生問題。

致茂研發出一種全新、高速且高精確度之 LED 全光通量之量測方式(見圖2)。 這種創新的量測 方式不僅比傳統方式收集更多的 LED 部分光通 量，也明顯的改善提升了量測精確度。
在光學量測方面，主波長、峰波長、色溫等均可 透過致茂獨特的光學設計與元件取得精確且穩定 快速之數據；在機構方面，58173 搭載一個6吋 的晶片載盤與校正基座，提供使用者一個完整 的校正與測試平臺；在電性測試方面，58173 則 具備完整之電源量測單元，無論順向電壓、漏電 流、逆向崩潰電壓等 LED 電性特性，均可于一 次滿足使用者的測試需求。

 

主要特色

●提供全方位電性測試 (200V/2A) ，可滿足HV及HP測試

●Chroma大面積光偵測器(量測角度可達128度)

●半自動精密LED wafer/chip點測設備

●特制Edge Sensor具有點測針壓穩定，無疲乏與針壓變動問題

●機械視覺定位系統，縮短人工操作時間

●自動抽測功能

●彈性調整的軟體操作界面

●快速芯片掃描系統

●自動破片掃描演算法

●遮光罩設計，杜絕背景光干擾

●即時顯示點測資料分布圖

●完善的量產測試統計報表及分析工具

 

設備

●半自動 LED wafer/chip 點測設備

●漏電流測試模組

●電源量測單元

●光學測試模組

●ESD 測試模組 (選配)

 

選購附件

模型 簡介
58173 LED 全光通量自動測試系統

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