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Model 58173 LED 全光通量自動測試系統(tǒng)

Chroma 58173 是一組全新獨特的量測 LED 全光通量之自動化測試系統(tǒng)。在LED的裸晶與晶粒測試生產(chǎn)線中，常見使用部份光通量來取代全光通量之量測方式 (見圖1)。然而，傳統(tǒng)的方式存在一些缺點，例如：準確度較低、訊噪比較低、測試時間較長等，以致于導入LED 的裸晶與晶粒生產(chǎn)線時會發(fā)生問題。

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致茂研發(fā)出一種全新、高速且高精確度之 LED 全光通量之量測方式(見圖2)。這種創(chuàng)新的量測方式不僅比傳統(tǒng)方式收集更多的 LED 部分光通量，也明顯的改善提升了量測精確度。
在光學量測方面，主波長、峰波長、色溫等均可透過致茂獨特的光學設計與元件取得精確且穩(wěn)定快速之數(shù)據(jù)；在機構(gòu)方面，58173 搭載一個6吋的晶片載盤與校正基座，提供使用者一個完整的校正與測試平臺；在電性測試方面，58173 則具備完整之電源量測單元，無論順向電壓、漏電流、逆向崩潰電壓等 LED 電性特性，均可于一次滿足使用者的測試需求。

主要特色

●提供全方位電性測試 (200V/2A) ，可滿足HV及HP測試

●Chroma大面積光偵測器(量測角度可達128度)

●半自動精密LED wafer/chip點測設備

●特制Edge Sensor具有點測針壓穩(wěn)定，無疲乏與針壓變動問題

●機械視覺定位系統(tǒng)，縮短人工操作時間

●自動抽測功能

●彈性調(diào)整的軟體操作界面

●快速芯片掃描系統(tǒng)

●自動破片掃描演算法

●遮光罩設計，杜絕背景光干擾

●即時顯示點測資料分布圖

●完善的量產(chǎn)測試統(tǒng)計報表及分析工具

設備

●半自動 LED wafer/chip 點測設備

●漏電流測試模組

●電源量測單元

●光學測試模組

●ESD 測試模組 (選配)

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模型	簡介
58173	LED 全光通量自動測試系統(tǒng)

Model 58173-FC LED 覆晶型全光通量自動測試系統(tǒng)

Model 58221-200-2 LED 電性測試模組

Model 58173-FC LED 覆晶型全光通量自動測試系統(tǒng)

Model 58221-200-2 LED 電性測試模組

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Chroma 19056/19057 耐壓分析儀系列為針對超高壓耐壓測試與分析所設計的設備。系列機種包含10kVac/12kVdc/20kVdc，最大輸出AC 20mA/DC10mA。基本交/直流耐壓、絕緣電阻測試，對于產(chǎn)線測試時的接觸檢查議題，除原有專利設計OSC開短路偵測 (Open Short Check)，新增HVCC高壓接觸檢查(High Voltage ContactCheck)，針對高絕緣能力之元件于高壓輸出時同步進行接觸檢查，提升測試可靠度與效率。

耐壓測試分析儀

Chroma 19036為業(yè)界首創(chuàng)結(jié)合脈沖測試，耐壓、絕緣電阻與直流電阻量測于單機的繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀，擁有5kVac/6kVdc高壓輸出、5kV絕緣電阻、6kV層間短路脈沖電壓與四線式直流電阻量測。符合繞線元件測試需求且提供多通道掃描測試，單機10通道輸出可達成一次多顆掃描測試，節(jié)省測試時間及人力成本。

繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀

Chroma 7935晶圓檢測機為切割后自動化晶粒檢測機，使用先進的打光技術(shù)，可以清楚的辨識晶粒的外觀瑕疵。結(jié)合不同的光源角度、亮度及取像模式，使得 7935可以適用于LED、雷射二極體及影像感測器等產(chǎn)業(yè)。

Model 7935 晶圓檢測系統(tǒng)

Chroma58158是一臺完全遵照國家 AC LED 元件標準量測規(guī)范所開發(fā)之LED燈具測試系統(tǒng)。 Chroma 58158 整合致茂的可程式化交流電源供應器與量測單元，提供 AC LED一個模擬真實交流環(huán)境之測試條件；另外，致茂亦提供一彈性化光學測試平臺，使用者不僅可利用Chroma58158提供之整合測試軟體可測得 AC LED 各種交流之光電特性 (詳見規(guī)格表)，亦可整合其他直流電流量測單元可測得AC LED之直流光學特性。

Model 58158-IS LED 照明測試系統(tǒng)

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