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3112 晶片測試分類機

晶片測試運用此自動化測試分類技術不僅能提升生產效率、減少人力需求，同時也增加了測試穩定度及測試良率。此外，其簡潔的機臺設計更可節省機臺于測試廠之占地面積，幫助客戶大幅降低生產成本。

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3112 晶片測試分類機

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Chroma 3112具備單頭與多頭之適合量產的PnP自動化晶片測試分類機，可藉由治具變更處理各種不同尺寸規格之晶片測試與分類。此設備透過PnP方式將晶片自晶片盤載入至測試站中，精確的測試后依據測試結果穩定的放置于分類盤中。其高效率的模組化設計與精準的機構傳動結構可確保在高速運作下減少Jam Rate的量產要求，多重檢查功能裝置可降低待測物發生異常的損壞。

主要特色

●高信賴度之PnP自動化測試分類機

●x4 多盤置入自動測試分類

●全方位 (X/Y/Z/θ) 可調式探針座模組

●測式座產品堆迭檢測

●x12 輸出分類盤可程式設定輸出類別

●全程即時良率顯示與控制

●全程探針接觸狀態顯示 (選配)

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Chroma 19056/19057 耐壓分析儀系列為針對超高壓耐壓測試與分析所設計的設備。系列機種包含10kVac/12kVdc/20kVdc，最大輸出AC 20mA/DC10mA。基本交/直流耐壓、絕緣電阻測試，對于產線測試時的接觸檢查議題，除原有專利設計OSC開短路偵測 (Open Short Check)，新增HVCC高壓接觸檢查(High Voltage ContactCheck)，針對高絕緣能力之元件于高壓輸出時同步進行接觸檢查，提升測試可靠度與效率。

耐壓測試分析儀

Chroma 19036為業界首創結合脈沖測試，耐壓、絕緣電阻與直流電阻量測于單機的繞線元件電氣安規掃描分析儀，擁有5kVac/6kVdc高壓輸出、5kV絕緣電阻、6kV層間短路脈沖電壓與四線式直流電阻量測。符合繞線元件測試需求且提供多通道掃描測試，單機10通道輸出可達成一次多顆掃描測試，節省測試時間及人力成本。

繞線元件電氣安規掃描分析儀

Chroma 7935晶圓檢測機為切割后自動化晶粒檢測機，使用先進的打光技術，可以清楚的辨識晶粒的外觀瑕疵。結合不同的光源角度、亮度及取像模式，使得 7935可以適用于LED、雷射二極體及影像感測器等產業。

Model 7935 晶圓檢測系統

Chroma58158是一臺完全遵照國家 AC LED 元件標準量測規范所開發之LED燈具測試系統。 Chroma 58158 整合致茂的可程式化交流電源供應器與量測單元，提供 AC LED一個模擬真實交流環境之測試條件；另外，致茂亦提供一彈性化光學測試平臺，使用者不僅可利用Chroma58158提供之整合測試軟體可測得 AC LED 各種交流之光電特性 (詳見規格表)，亦可整合其他直流電流量測單元可測得AC LED之直流光學特性。

Model 58158-IS LED 照明測試系統

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