產品詳細
3160/3160-A是一款適合量產,高產出且多平行測試站點的高速IC測試分類機。此分類機 運用Pick & Place技術,能夠配合多種封裝類型并按照測試結果將它們排序分類予分料盤中。 其高效率的模組化設計與精準的機構傳動結構可確保在高速運作下,機臺量測之重覆性,并有助于增加機臺使用之穩定性與維護之便利性。此外,其簡潔的機臺設計更可節省機臺于測試廠之占地面積,幫助客戶大幅降低生產成本。進階款3160-A更可按照客戶測試條件需求搭配Chroma最新研發的主動式熱控模組(ATC)達到精準的常、高溫測試溫度要求。
3160/3160-A有著高可靠性的處理機制可依據測試需求支援各種不同類型封裝的晶片, 且能與通用生產治具相容,順暢的自動化技術滿足高產能和低Jam Rate的量產要求。此外,可調式的壓測力和位置校正以及各種感應裝置可降低待測物發生突如其來的損壞, 和幫助延長socket的使用期,同時保持或提升產能的良率。
主要特色
●9Kpcs 產能
●可設定的待測物間距
●可側邊安裝tester
●壓閥式受測物防護機
●智慧型IC殘留檢測
●測試良率控制
●通用治具
●工程級機臺自動校正功能
●進階版ESD標準
●1*4 DUT架構 (Model 3160)
●1*4或2*2 DUT架構 (Model 3160-A)
●空載盤自動堆迭 (選購) (Model 3160-A)
●主動式熱控模組 (選購) (Model 3160-A)
●馬達 Arm Z (Model 3160-A)
●氣缸式側推功能 (Model 3160-A)
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