3650 SoC 測(cè)試系統(tǒng)
關(guān)鍵詞 :
3650 SoC 測(cè)試系統(tǒng)
所屬分類(lèi) :
產(chǎn)品詳細(xì)
主要特色
●50/100MHz測(cè)試工作頻率
●512個(gè) I/O 通道(I/O Channel)
●16M (32M Max.) Pattern 記憶體(Pattern Memory)
●Per-Pin 彈性資源架構(gòu)
●32 DUTS 平行測(cè)試功能
●ADC/DAC 測(cè)試功能
●硬體規(guī)則模式產(chǎn)生器(Algorithmic Pattern Generator)
●BIST/DFT掃描鏈(Scan Chain)測(cè)試模組選項(xiàng)
●好學(xué)易用的 Windows XP 作業(yè)環(huán)境
●每片 VI45 類(lèi)比單板可支援8~32通道
●每片 PVI100 類(lèi)比單板可支援2~8通道
●彈性化的 MS C/C++ 程式語(yǔ)言
●即時(shí)pattern編輯器,含F(xiàn)ail pin/address顯示
●測(cè)試程式/測(cè)試pattern轉(zhuǎn)換軟體(J750, SC312)
●多樣化測(cè)試分析工具 : Shmoo plot,Waveform display, Wafer Map, Pin Margin,Scope tool, Histogram tool等等
●最經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的VLSI和消費(fèi)性混合信號(hào)晶片產(chǎn)品的測(cè)試方案
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