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3650-CX SoC 測試系統(tǒng)

50/100MHz測試工作頻率
256個 I/O 通道(I/O Channel)
16/32 MW vector 記憶體
16/32 MW pattern instruction 記憶體

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主要特色

●50/100MHz測試工作頻率

●256個 I/O 通道(I/O Channel)

●16/32 MW vector 記憶體

●16/32 MW pattern instruction 記憶體

●Multi-site 測試可達 32 sites

●16個 DPS 通道

●8個 PMU 通道

●Per-Pin 時序頻率測試單位

●最高可選購1024M bit x 4 CH scan depth

●可選購記憶體測試用ALPG

●高達 16 high-voltage pins

●16 個高性能 DPS 通道

●每片 VI45 類比單板可支援8~32通道

●每片 PVI100 類比單板可支援2~8通道

●Windows® XP操作環(huán)境

●C++ 程式語言與圖形人機介面設計

●采用CRISP完整多樣的系統(tǒng)軟體工具

●與周邊設備相容性高

●All-in-One小型化氣冷式機臺設計，節(jié)省占地面積

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Chroma 19056/19057 耐壓分析儀系列為針對超高壓耐壓測試與分析所設計的設備。系列機種包含10kVac/12kVdc/20kVdc，最大輸出AC 20mA/DC10mA。基本交/直流耐壓、絕緣電阻測試，對于產線測試時的接觸檢查議題，除原有專利設計OSC開短路偵測 (Open Short Check)，新增HVCC高壓接觸檢查(High Voltage ContactCheck)，針對高絕緣能力之元件于高壓輸出時同步進行接觸檢查，提升測試可靠度與效率。

耐壓測試分析儀

Chroma 19036為業(yè)界首創(chuàng)結合脈沖測試，耐壓、絕緣電阻與直流電阻量測于單機的繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀，擁有5kVac/6kVdc高壓輸出、5kV絕緣電阻、6kV層間短路脈沖電壓與四線式直流電阻量測。符合繞線元件測試需求且提供多通道掃描測試，單機10通道輸出可達成一次多顆掃描測試，節(jié)省測試時間及人力成本。

繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀

Chroma 7935晶圓檢測機為切割后自動化晶粒檢測機，使用先進的打光技術，可以清楚的辨識晶粒的外觀瑕疵。結合不同的光源角度、亮度及取像模式，使得 7935可以適用于LED、雷射二極體及影像感測器等產業(yè)。

Model 7935 晶圓檢測系統(tǒng)

Chroma58158是一臺完全遵照國家 AC LED 元件標準量測規(guī)范所開發(fā)之LED燈具測試系統(tǒng)。 Chroma 58158 整合致茂的可程式化交流電源供應器與量測單元，提供 AC LED一個模擬真實交流環(huán)境之測試條件；另外，致茂亦提供一彈性化光學測試平臺，使用者不僅可利用Chroma58158提供之整合測試軟體可測得 AC LED 各種交流之光電特性 (詳見規(guī)格表)，亦可整合其他直流電流量測單元可測得AC LED之直流光學特性。

Model 58158-IS LED 照明測試系統(tǒng)

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